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【晶扬电子】为更好地服务于广大客户，公司实验室已配备各类齐全的测试设备与实验装置
欢迎各位客户前来使用测试
测试设备与实验装置如下：
传输线脉冲发生器
(Transmission Line Pulse)
传输线脉冲（TLP）是研究静电放电（ESD）事件的电流和时域中的集成电路技术和电路性能的一种方法
一种集成电路静电放电防护技术的研究测试手段
目前，对于半导体器件的高集成度・高频・高耐压的需求逐年增加 对于在以往的 TLP 测试机无法完成的高电压，
大电流的特性测试，在本设备上得以实现，并有助于高耐压元件工作参数的取得和分析
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计开发和制造的最终生产过程中的
质量保证都是必不可少
设备特征
● 用于获取器件保护电路的相关参数特性
● 为器件升级提供支持，缩短产品周期
● 具有半自动探针台整合功能的可选自动测试，可大大提高生产率
● 可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用
1. TT3304SP 小封装四路阵列型的ESD保护IC
● TLP=16A（接触放电8kV）时，钳位电压Vc≤7V 8/20us的Ipp≥6Ａ，同时Vc≤5.5V ， Ipp=6A
2、TT0214SP 小封装四路ESD阵列型产品
● 容值 0.18pf，开启电压低至3.5V（DC开启电压），带回扫特性 TLP=16A（8KV）时，Vc≤5V；Ipp=4A（8/20uS）时，Vc≤2.5V
半导体器件参数分析仪
（Semiconductor Device Parameter Analyzer）
半导体参数分析仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压（IV）、
电容测量{CV（电容-电压）、C-f（电容-频率）和 C-t（电容-时间）}，并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体
参数测试提供极其丰富的测量功能。
支持器件、材料、半导体、有源/无源器件，甚至几乎所有其他类型电子器件的电气表征和测试，并且具有卓越的测量可靠性
和测量效率。
按照美国联邦通信委员会 (FCC) 对电信产品抗击有关雷击浪涌波形的FCC 第 68 部分中要求来制作 , 其性能指标覆盖
该标准的要求。
设备参数
静电放电是普遍存在的自然现象，是指不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移。
静电放电对于电气和电子设备、装置或系统有很大影响，是一种危害程度极高的电磁能量，只有提高电子产品抗静电能力
水平才能保证电子的安全使用。
静电放电发生器用于评估电气和电子设备、装置或系统遭受静电放电时的性能，产品完全满足IEC61000-4-2和GB/T17626.2
等标准要求。
设备参数
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